時間：2022-03-10 17:42:01 | 來源：行業(yè)動態(tài)
時間：2022-03-10 17:42:01 來源：行業(yè)動態(tài)
目前，內(nèi)存錯誤的診斷和處理技術(shù)相對成熟，主要有ECC、chipkill、SDDC等，這些技術(shù)能夠檢驗內(nèi)存錯誤，進(jìn)行相應(yīng)處理，但是有一定局限性，例如ECC可以檢驗和糾正一個數(shù)據(jù)位錯誤，但無法糾正2個錯誤位同時發(fā)生，而且如果ECC錯誤頻繁發(fā)生會導(dǎo)致Multi-bit被標(biāo)識為不可用，甚至觸發(fā)MRC內(nèi)存管理機(jī)制，將整個Rank/DIMM做disable處理。頻繁的內(nèi)存錯誤并不表示內(nèi)存物理失效，也有可能是外部環(huán)境溫度過高、電壓波動等因素導(dǎo)致，這樣的處理會減少內(nèi)存性能、浪費內(nèi)存空間，從而降低系統(tǒng)性能。關(guān)鍵詞：
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