探針是電測試的接觸媒介,為高端精密型電子五金元器件。

1.ICT探針?。↖CT series Probes)

2.界面探針(Interface Probes)

3.微型探針(MicroSeries Probes)

4.開關(guān)探針(Switch Probes)

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探針(Pogo pin)?

時間:2024-01-07 11:06:01 | 來源:網(wǎng)站運營

時間:2024-01-07 11:06:01 來源:網(wǎng)站運營

探針(Pogo pin)?:一、探針

探針是電測試的接觸媒介,為高端精密型電子五金元器件。

1.ICT探針?。↖CT series Probes)

2.界面探針(Interface Probes)

3.微型探針(MicroSeries Probes)

4.開關(guān)探針(Switch Probes)

5.高頻探針(Coaxial Probes)

6.旋轉(zhuǎn)探針(Rotator Probes)

7.高電流探針(High Current Probes)

8.半導(dǎo)體探針 (Semiconductor Probes)

9.電池接觸探針 (Battery and Connector Contacts)

10.汽車線束測試測試探針

二、IC芯片老化、測試、燒錄主要用到種類,探針的主要參數(shù)。

5.高頻探針(Coaxial Probes)

用于測試高頻信號,有帶屏蔽圈的可測試10GHz以內(nèi)的和500MHz不帶屏蔽圈的.

7.高電流探針(High Current Probes)

探針直徑在2.54mm-4.75mm之間.最大的測試電流可達39amps.

8.半導(dǎo)體探針 (Semiconductor Probes)

直徑一般在0.50mm-1.27mm之間.帶寬大于10GHz,50Ω characteristic

探針的主要參數(shù):

引腳數(shù)量間距(mm)使用溫度最高IC頻率
三、探針圖片及解剖:

1、顏色:黃色

2、組成:針頭+針管+彈簧

探針
探針在測試座里的使用狀況:有四個接觸點,摩擦點多,高低溫下容易變形,鍍金范圍廣。目前國內(nèi)的測試探針已超越國外品質(zhì),測試壽命一般在3-5萬次。針對加工定制的測試壽命會延長,且出現(xiàn)問題后只需要更換問題探針就行,大大降低了企業(yè)的測試成本!

探針測試
五、什么是彈片?

彈片是電測試的接觸媒介,為精密型電子五金元器件,比探針工藝簡單,使用性能比探針好。

彈片在測試?yán)锏氖褂脿顩r:有二個接觸點,沒有摩擦點,高低溫下不會變形,鍍金范圍小。彈性好,不會出現(xiàn)偏移,沒有磨損,壽命長。

彈片探針
在不同的行業(yè)應(yīng)用中,經(jīng)鴻怡電子半導(dǎo)體IC封測實際運用,探針和彈片均適用于測試座、老化測試座、燒錄座、測試夾具、測試治具、測試架上,主要是根據(jù)客戶測試需求!

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